Nos équipements
Parmi nos équipements :
Spectroscopie de photon X (XPS)
Profilométrie
Microscopie numérique 3D
Spectroscopie de masse d’ions secondaires en temps de Vol (ToF-SIMS)
Microscopie Electronique à Balayage (MEB)
Spectrométrie à Décharge luminescente (GD-OES)
Microscopie et imageur infrarouge (FTIR)
Goniomètre (angles de contact)
… mais aussi les équipements de SERMA Technologies :
Radiographie 2D, 3D – Laminographie
Fluorescence X
Microscopie acoustique
Thermographie infrarouge
Microscopies à balayage
Microscopies optiques
Balance de mouillage
Pull-shear testeur
Laser ouverture boitier
Microscope à émission de lumière
Spectrométrie EDX
Contaminomètre
Détecteur de fuite
Appareil de traction
Polisseuse
TEM Osiris 4 cadrans EDX / Super X
FIB V600 Grenoble
MK2
Orion 3